TMS-Pro(單通道)

TMS-D(雙通道)

透過率光譜分析儀

          TMS-PRO和TMS-D透過率光譜分析儀能快速準確地測量各類手機及Pad面板的透過率，可用于同一面板多個小孔測量，實時顯示單、多點波長透過率數據及指定波段平均透過率數據、實時顯示半透波長及透過率。

儀器特點

1. 采用大角度采集全穿透式測量；

2. 可對多孔進行快速測量； 

3. 采用數字視頻對焦，使微小區域實現精準測量；

4. 實時顯示測量樣品關注波長位置的透射率數據及半透波長檢測，自動調整顯示坐標范圍，可對批量樣品進行高效檢測及譜圖對比分析；

5. 可自定義測量方案，設置判定標準，自動判定"OK"和"NG”,使檢測更快速，結果更準確；

6. 高性能探測器，單次測量小于1秒，重復性高；

7. 最小測量孔徑可達φ0.2mm。

應用領域

>> 手機面板IR孔、隱藏孔、霧化孔、閃光燈孔透過率測量；

>> 弧形邊IR孔、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板透過率測量；

>> 太陽膜、濾光片光學元件透光測量。

技術參數