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      Sphere-3000 反射率光譜分析儀

       

          Sphere-3000 反射率光譜分析儀能快速準確地測量各類球⾯/⾮球⾯器件的相對/絕對反射率,適⽤于凸透鏡、凹透鏡、鏡⽚等的鍍膜表⾯反射率測量,還可進⾏有⼲涉條紋的單層膜厚或折射率測量,可應⽤于硅晶太陽能電池板納⽶級膜厚檢測。。

       

      儀器特點

      1.  消除背⾯反射光,⽆需進⾏背⾯防反射處理即可快速準確地測定表⾯反射率;

      2.  CIE顏色測定X Y色度圖,x, y, L, a, b, 飽和度,主波長等;

      3.  顯微測定微小區域的反射率,物鏡對焦于被測物微小區域(φ60μm)。

       

      測試對象

       

      技術參數

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