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      PDM-1100相位差光譜分析儀

          PDM-1100相位差光譜分析儀是主要運用光譜技術對波片、激光雷達等光學元器件的相位差進行測量分析的儀器,為光學元件質量把控提供數據支撐。該設備可在0~70度之間自定義測量角度,滿足不同檢測需求。放置好樣品即可開始測試,無需建立材料庫、無需建模、無需對焦,測試速度快,操作便捷。

       

       

       

      波片相位差測量

      激光雷達視窗片相位差測量

       

       儀器特點

      1. 相位差測量范圍可選,0-180°或0-360;
      2. 0°固定入射或可變角度(0到70度)測量;
      3. 可測量波片、車載雷達窗口片等樣品的相位差波長分布情況;
      4. 支持大尺寸樣品測量,最大至200mm;
      5. 無需對焦,無需材料庫,無需建模,測量速度快。

       

       產品參數

       

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