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      ODMS-3光密度光譜分析儀

       

       

           ODMS-3光密度光譜分析儀可快速測量樣品涂層的光密度值,測量密度范圍高達OD6。該設備可快速測量特定單波長或單波段的OD值,同時還可光學元件進行透過率測量,且具備對小孔徑樣品光譜透過率的快速測量,最小孔徑中1mm。具有高精度測量、高靈敏度調節、快速響應和操作簡便的特點。主要用于手機及顯示面板上油墨層的光密度,小孔油墨透過率測量。

       

       儀器特點

      1.最大密度測量范圍可達6 OD;
      2.可同時測量UV和VIS區光密度;
      3.集光密度和小孔透過率測量為一體;
      4.儀器響應速度快,即時測量結果;
      5.支持≥中1mm小孔徑樣品測量;
      6.采用數字視頻對焦定位,可對小區域進行準確測量。

       

       測量對象

       

       

       

       產品參數

       

       

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