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      TMS 透過率光譜分析儀 

      TMS 透過率光譜分析儀能快速準確地測量各類平⾯、球⾯、⾮球⾯等光學元件的透過率,可⽤于實時顯⽰單、多點波⻓透過率數據及指定波段平均透過率數據。適⽤于⼿機蓋板IR孔、棱鏡、鍍膜鏡膠合鏡、平⾏平板、太陽膜、濾光⽚等平⾯、球⾯⾮球⾯光學元件及組合鏡頭等的檢測。

       

      儀器特點

      1. 球⾯、⾮球⾯、塑料制品散透射等測量;

      2. 測試速度極快,眼秒出結果,實現產品全檢;
      3. 極小樣品的透過率檢測。

       

      測量對象

       

      數字相機視頻對焦

       

      技術參數

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